«Элек.ру» — специализированная интернет-площадка, посвященная исключительно вопросам, касающимся электротехнического рынка в целом и отдельных его отраслей в частности.

X-ray inspection of electronics made easy with XT V 130

Опубликовано: 2 сентября 2012 г. в 15:46, 3 просмотра Комментировать

X-TEK XT V 130 from Nikon Metrology is an affordable, compact and low-weight X-ray system executing automated QA on serial-produced electronic samples inspecting multilayer boards, pcb solder joints, ball grid arrays (bGA), μbGAs etc.

Код для размещения:

Рекомендуем посмотреть

Комментировать

    Еще никто не оставил комментариев.

Для того чтобы оставлять комментарии Вам необходимо зарегистрироваться либо авторизоваться на сайте.