X-ray inspection of electronics made easy with XT V 130

Опубликовано: 2 сентября 2012 г. в 15:46, 3 просмотра Комментировать

X-TEK XT V 130 from Nikon Metrology is an affordable, compact and low-weight X-ray system executing automated QA on serial-produced electronic samples inspecting multilayer boards, pcb solder joints, ball grid arrays (bGA), μbGAs etc.

Код для размещения:

Рекомендуем посмотреть

18 июля 2013 г. в 15:32
Nikon Perfect Zoom System
Nikon Perfect Zoom System
4 декабря 2013 г. в 15:42
Nikon NEXIV VMZ-R series - CNC Video Measuring Systems
Nikon NEXIV VMZ-R series - CNC Video Measuring Systems

Комментировать

    Еще никто не оставил комментариев.

Для того чтобы оставлять комментарии Вам необходимо зарегистрироваться либо авторизоваться на сайте.