Эти скоростные, высокоточные, надежные и популярные системы тестирования плат «летающими» пробниками идеально подходят для производств с широкой номенклатурой изделий и малой серией. Метод четырехконтактного тестирования помогает определить как приподнятые выводы микросхем, так и плохо припаянные выводы, «холодную» пайку.

Возможности системы обеспечивают активное внутрисхемное тестирование FETs, реле, трехконтактных регуляторов напряжения; возможности системы настолько широкие, что даст фору любой другой системе и ставит под вопрос их тестовые возможности.

Данная платформа разработана для обеспечения гибкости производства и последующего расширения возможностей системы.

Идеально подходит для определения припаянных выводов микросхем, качества пайки и определения холодной пайки.