Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров.
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее — микросхемы) и устанавливает общие требования при измерении электрических параметров микросхем.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 1622—79 и СТ СЭВ 3197—81 в части общих требований при измерении электрических параметров микросхем (см. приложение).
1.УСЛОВИЯ и РЕЖИМЫ ИЗМЕРЕНИЯ
1.1. Условия измерения, в том числе температура окружающей среды или температура в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы, должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.
1.2. Значения параметров электрических режимов на выводах микросхем (напряжений питания, напряжений или токов на входах и выходах, характер и значение нагрузки и т. п.), а также последовательность их подачи при измерении электрических параметров микросхем должны соответствовать установленным в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.3. Измерения электрических параметров микросхем проводят в установившемся статическом или динамическом режиме.
👉 Подписывайтесь на Elec.ru. Мы есть в Телеграм, ВКонтакте и Одноклассниках