- Профиль
- Отзывынет
- Новости36
- Маркет656
- Публикации3
- Мероприятия3
- Видео1
4 марта 2019 г. в 15:12
Статья посвящена механизму отказов электронных устройств. Будет полезна технологам на предприятиях, производящих микроэлектронные устройства. В данной статье представлены наиболее распространенные отказы полупроводниковых устройств.
3 ноября 2015 г. в 16:38
Все камеры коммерческого образца, применяемые для проведения испытаний на ЭМС, можно разделить на три группы.
4 августа 2015 г. в 12:27
Новые технологии атомно-слоевое осаждения (АСО) для производства органических светодиодов и оборудование Picosun для промышленного производства ОСД