Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров.
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
Стандарт входит в комплекс стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар (далее — приборы) и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса.
Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 1622—79 и СТ СЭВ 3790—82 в части общих положений (см. приложение).
1. УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЙ
1.1. Измерения следует проводить в нормальных климатических условиях, установленных ГОСТ 20.57.406.
1.2. Электрический режим, в котором проводят измерения параметров приборов, устанавливают в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.
1.3. Для устранения нагрева прибора, вызванного рассеиванием электрической мощности во время измерения, следует применять охлаждающие элементы, если это предусмотрено в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.
1.4. Если прибор чувствителен к постороннему излучению, следует применять световой экран.
1.5. Напряжение холостого хода и токи короткого замыкания источников питания не должны превышать значений, при которых происходит перегрузка источников и измерительных приборов при обрыве или пробое проверяемого прибора.
👉 Подписывайтесь на Elec.ru. Мы есть в Телеграм, ВКонтакте и Одноклассниках