Основание со встроенными компонентами. Часть 1-1. Общие требования. Методы испытаний
Предисловие
1. ПОДГОТОВЛЕН Негосударственным образовательным частным учреждением дополнительного профессионального образования «Новая инженерная школа» (НОЧУ «НИШ») на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии стандарта, указанного в пункте 4 который выполнен Российской комиссией экспертов МЭК/ТК 91.
2. ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 420 «Базовые несущие конструкции, печатные платы, сборка и монтаж электронных модулей».
3. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства ло техническому регулированию и метрологии от 27 сентября 2019 г. № 795-ст.
4. Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 62878-1-1—2015 «Основание со встроенными компонентами. Часть 1-1. Общие требования. Методы испытаний» (IEC 62878-1-1—2015 «Device embedded substrate — Part 1-1: Generic specification — Test methods». IDT).
Международный стандарт разработан Техническим комитетом МЭК ТК 91 «Технология поверхностного монтажа».
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА.
5. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
👉 Подписывайтесь на Elec.ru. Мы есть в Телеграм, ВКонтакте и Одноклассниках