После большого успеха конференций InfraR&D прошлых лет ITC рад объявить о следующей конференции для термографистов, работающих в области научных исследований, автоматизации и промышленных разработок. Конференция состоится 25-26 апреля 2012 г. на выставке Hannover Fair.
Тематика
Тематика InfraR&D — тепловизионные исследования и применение тепловидения в различных сферах: от ветеринарных обследований и визуализации утечек газа до передовых решений в области неразрушающего контроля.
Требования к участникам
Участники конференции предоставляют:
- Большой доклад — длительность выступления около 40 минут;
- Короткий доклад — длительность выступления около 20 минут;
- Плакат;
- Наглядная демонстрация.
Статьи с размышлениями или справочными материалами, выделяющие тенденции и технологии, важные для будущих исследований в области ИК-термографии.
Конференция проводится на английском языке. Участники предоставляют названия и аннотации работ по одному из приведенных ниже электронных адресов до 1 ноября 2011 г. включительно.
Аннотация
Аннотация должна быть не длиннее 500 слов. В ней должны быть перечислены: предпочитаемый формат презентации, заголовок, имя автора статьи и название его компании, имена соавторов и названия их компаний, контакты автора (полный почтовый адрес, телефон, e-mail), список ключевых слов.
Уведомления о принятии статьи или отказе
ITC EMEA сообщит всем авторам о своем решении 20 декабря 2011 года. Это уведомление будет включать в себя подробные инструкции, которые помогут отобранным авторам подготовить статьи. Итоговый вариант статьи нужно предоставить до 28 февраля 2012 г.
Стоимость участия
Главные докладчики участвуют в конференции бесплатно.
Для остальных докладчиков стоимость участия — 249 евро без НДС (199 евро без НДС для студентов и для аттестованных слушателей ITC–необходимо подтверждение документами).
В стоимость включены: участие в конференции, материалы конференции, ужин в среду, обед и прохладительные напитки в четверг.
Об организаторах
Конференция InfraR&D организуется ITC при поддержке FLIR Systems.
