Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров.
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее — микросхемы) и устанавливает методы измерения статических электрических параметров микросхем.
Общие требования при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 18683.0—83.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 3197—81 в части измерения статических электрических параметров микросхем (см. приложение).
1.ИЗМЕРЕНИЕ ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ, ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ ПРИ ВЫСОКОМ УРОВНЕ ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ И ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ ПРИ НИЗКОМ УРОВНЕ ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ.
1.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.
1.2. Подготовка к измерениям
1.2.1. Подготавливают измерительную установку к работе.
1.2.2. Подключают микросхему к измерительной установке.
1.3. Проведение измерений
1.3.1. На микросхему подают напряжение питания от источника G2 и входные напряжения от источника G1, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
👉 Подписывайтесь на Elec.ru. Мы есть в Телеграм, ВКонтакте и Одноклассниках