Сегодня компания Tektronix, ведущий мировой поставщик контрольно-измерительных решений, представляет полностью интегрированный и гибко конфигурируемый параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS, который позволяет ускорить измерение электрических характеристик полупроводниковых приборов и материалов, а также параметров технологических процессов за счет применения стандартных процедур измерения для неопытных пользователей, упрощения измерительных схем и получения понятных и точных результатов измерений.
Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS, использующий все преимущества своего предшественника — параметрического анализатора Keithley 4200-SCS, имеет современный внешний вид и снабжен новым графическим интерфейсом пользователя со встроенными видеоинструкциями. Это помогает вдвое сократить время настройки измерительных схем и более интуитивно управлять анализатором. Наиболее важные области применения анализатора — исследования в области полупроводниковых материалов и технологий, а также анализ отказов и контроль надежности компонентов, причем анализаторы могут использоваться совместно несколькими инженерами-исследователями.
«Параметрический анализатор незаменим для измерения характеристик новых полупроводниковых приборов и материалов или контроля надежности компонентов перед их серийным производством. Инженеры-исследователи, которые эпизодически анализируют параметры, как правило, не знают все тонкости работы с параметрическими анализаторами, — сказал Майк Флаэрти (Mike Flaherty), генеральный менеджер компании Tektronix по линейке приборов Keithley. — Именно поэтому мы решили потратить усилия на создание параметрического анализатора 4200A-SCS, который исключительно прост в настройке и может успешно использоваться инженерами-исследователями, не имеющими опыта работы с такими приборами».
Презентация модульного параметрического анализатора Keithley 4200A-SCS.
Новый модуль коммутации
Специалисты компании Tektronix разработали 4-канальный модуль коммутации Keithley 4200A-CVIV, с помощью которого можно повысить эффективность измерения большого числа параметров при исследовании полупроводниковых приборов и материалов. Этот модуль, используемый с базовым блоком 4200A-SCS, обеспечивает оперативное переключение между режимом измерения ВАХ и режимом измерения ВФХ, причем ВФХ можно измерять на любом выводе компонента без перемещения пробника или переключения кабелей.
В анализаторе 4200A-SCS применяется новый широкоэкранный дисплей высокого разрешения с большой полезной площадью рабочей поверхности, предоставляющий интерактивные возможности при тестировании и проведении экспериментов. Дисплей в сочетании с совершенно новым графическим пользовательским интерфейсом обеспечивает интуитивно-понятное управление для новичков и расширенные функциональные возможности для экспертов. Графический пользовательский интерфейс снабжен видеоинструкциями, которые основаны на знаниях и опыте специалистов нашей компании, работающих по всему миру. С помощью этих инструкций пользователи не только быстрее осваивают управление прибором, но и более точно интерпретируют непредвиденные результаты измерений.
Как и его предшественник, полностью интегрированный модульный анализатор 4200A-SCS предназначен для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и контроля технологических процессов. Анализатор содержит модули источников-измерителей для измерения ВАХ, модуль ВФХ для измерения полного сопротивления по переменному току и модуль для высокоскоростного измерения импульсной ВАХ, захвата сигналов и измерения переходных процессов. Используя анализатор 4200A-SCS, инженеры могут измерять необходимые характеристики при исследовании материалов, разработке или производстве полупроводниковых приборов.
