Современные технологии ставят сложнейшие задачи в области автоматического электроконтроля перед тестерами с подвижными пробниками и системами адаптерного типа. Растущий спрос на функциональное тестирование, внутрисхемное программирование, периферийное сканирование и тестирование с помощью специализированных инструментов, приводит к тому, что производители стали тщательнее подбирать конфигурацию тестовых решений. При этом наиболее актуальной задачей является сокращение времени тестирования при минимальных затратах.
В рамках решения данной проблемы компания Seica представляет концепт нового тестера типа «поле контактов» Pilot4D FX, предназначенный для серийного производства. Система не имеет аналогов, поскольку инженерам компании удалось интегрировать в одной системе преимущества тестеров с подвижными пробниками и внутрисхемных тестеров типа «поле контактов».
Центральным узлом тестера Pilot4D FX является подвижная матрица, на которой установлена тестовая плита «поле контактов» размером 120х120 мм (по желанию размер можно увеличить до 240х240 мм). Матрица тестера имеет 4 степени свободы: она движется по осям XYZ и вокруг своей оси.
Как и предыдущие модели тестеров производства фирмы Seica, Pilot4D FX базируется на единой платформе Seica VIP, которая включает в себя новейшее программное обеспечение VIVA.
Удобство и экономичность данного решения состоит в том, что для тестирования мультизаготовок изготавливается адаптер только для одной платы (или нескольких) из заготовки. Т.е, позиционер будет поочередно устанавливать адаптер на каждую плату в мультизаготовке, обеспечивая одновременный доступ к каждой тестовой точке изделия и 100% тестовое покрытие всей мультипликации.
Например, для тестирования мультизаготовки из 40 плат необходимо изготовить тестовую плиту на 1280 тестовых точек (ориентировочная стоимость изготовления тестовой плиты — 9700 €). При использовании системы (ориентировочно 2600 €). Таким образом, система Pilot FX позволит в 4 раза сократить затраты на изготовление адаптера для тестирования серийной продукции.
В базовой комплектации система Pilot4D FX оборудована одной подвижной матрицей, расположенной с нижней стороны тестируемого образца. Однако специалисты фирмы Seica предусмотрели возможность адаптировать тестер под нужды заказчика:
При реализации обратной архитектуры загрузки (тестовые точки с верхней стороны образца) подвижная матрица может быть установлена сверху мультизаготовки.
В случае необходимости двустороннего тестирования модуля устанавливается дополнительная подвижная матрица.
Для использования дополнительного программного обеспечения (например, LABVIEW) или тестовых инструментов в корпусе тестера предусмотрена 19” стойка, а максимально открытая архитектура VIP платформы позволяет легко интегрировать внешние модули через RS232/USB порты, GPIB/PXI/VXI/CAN/BUS/LIN-протоколы. Опционально возможна установка всех функциональных средств более ранних моделей тестеров (Pilot4D V4, Pilot4D L4, Pilot4D V8).
Кроме того, в системе реализован ряд решений для идентификации и прослеживания плат и мультизаготовок:
- маркировка мультизаготовок («годен/негоден») или отдельных плат по завершению тестирования;
- цветная камера высокого разрешения с возможностью считывания штрихкодов (в том числе 2D-штрихкодов datamatrix, QR-code); каждой отдельной плате мультизаготовки присваивается код, который привязывается к отчету о результатах тестирования;
- печать отчетов о результатах теста на чековом принтере; работа с базами данных SQL.
- Учитывая все вышесказанное, можно с уверенностью сказать, что новая система Pilot4D FX является оптимальным решением для электроконтроля радиоэлектронных изделий в условиях серийного многономенклатурного производства.
Знаете ли вы?
Seica была первой в Европе компанией, выпустившей тестеры с подвижными пробниками. И сейчас, спустя 20 лет успешного присутствия этой системы на рынке автоматического тестового оборудования, Seica становиться первой в мире компанией, представившей своим клиентам новый уникальный проект – тестер Pilot4D FX, кардинально изменивший принципы «философии тестирования».
